説明
材料科学における透過型電子顕微鏡の基礎について学びます。TEMが使用されている論文を理解し、TEMに関する実践的なトレーニングを受けるために必要な理論的基礎を身に付けることができます。
このコースでは、材料科学の分野における透過型電子顕微鏡（TEM）の包括的な紹介を提供します。 シングルユーザーが操作する機器の場合、最新のTEMは卓越した汎用性を備えた分析プラットフォームを提供し、マイクロメーターからサブオングストロームスケールまでの構造および化学情報にアクセスできます。 電子が透過する薄いサンプルでは、結晶化度、粒子構造、サイズ、欠陥、および化学組成を測定できます。 結晶格子は原子分解能で画像化できるため、粒界や界面を観察できます。 これは、ナノ粒子を研究するための唯一の直接構造分析法です。
このコースでは、最新のTEMと以下の間の接続についての深い理解を得ることができます。
–機器の光学と操作。
–電子と物質の相互作用の物理学。
–サンプルの材料特性への洞察。
これにより、背景が次のようになります。
–特定の科学的問題を解決するのに適したTEM技術を特定します。
–記事で提示されたTEMデータを解釈します。 たとえば、収差補正によるサブオングストロームの解像度につながった技術の進歩の影響を評価してください。
これは、この注目すべき装置に関するその後の実践的なトレーニングの基礎にもなり、「暗視野ホログラフィー」や「角度分解電子エネルギー損失分光法」のような魔法の名前を持つ非常に高度な技術を学ぶための足がかりとなります。
推奨される背景：
結晶学と回折の基礎、大学の光学系（光線図の作成）は、絶対に必須の前提条件です。 フーリエ光学、より高度な結晶学、固体物理学は非常に有利です。
価格：無料で登録！
言語： 英語
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